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DDR4 Main Memory Interposers

Double-data rate fourth-generation (DDR4) main memory technologies are?developed by the Joint Electronic Devices Engineering Council (JEDEC) for use in servers, workstations, and high-performance portable applications?that require deep memory.

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8系列采樣示波器

8系列采樣示波器采用創(chuàng)新的分解架構(gòu)，可以進(jìn)行高效經(jīng)濟(jì)的光接口組件測(cè)試。憑借可重新配置的緊湊型設(shè)計(jì)、創(chuàng)新的用戶(hù)界面和可靠的高端性能，這款產(chǎn)品堪稱(chēng)制造應(yīng)用的理想測(cè)試解決方案。

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4000系列邏輯分析儀

TravelLogic 4000 系列是TL2000/TL3000系列的升級(jí)版產(chǎn)品，不管在記憶體記憶深度以及高采樣率下通道數(shù)量都有所提升，另外TL4000系列同時(shí)具有邏輯分析儀模式 & 協(xié)議分析儀模式兩種不同的信號(hào)與協(xié)議分析模式。

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Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

使用吉時(shí)利4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測(cè)試儀）加快各類(lèi)材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開(kāi)發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)先電學(xué)特性半導(dǎo)體參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試（IV曲線(xiàn)測(cè)試）、電容電壓曲線(xiàn)測(cè)試（CV曲線(xiàn)測(cè)試）和超快脈沖IV曲線(xiàn)測(cè)量。

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PRODUCTS

LPDDR5 Mobile Memory Interposers

LPDDR5 interposer

LPDDR4 Mobile Memory Interposers

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LPDDR3 Mobile Memory Interposers

LPDDR3 interposer

深圳市千兆科科技有限公司

我們一直致力于將世界先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)帶到科技的各個(gè)領(lǐng)域。在測(cè)試技術(shù)這個(gè)專(zhuān)業(yè)的領(lǐng)域，深圳市千兆科科技有限公司在實(shí)踐中積累了大量的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，一直緊跟科技發(fā)展的腳步，致力于將測(cè)試技術(shù)服務(wù)本地化，努力為優(yōu)秀的工程師們提供優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。

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解決方案

SOLUTION

數(shù)據(jù)采集及電源測(cè)試

數(shù)據(jù)采集(DAQ)，是指從傳感器和其它待測(cè)設(shè)備等模擬和數(shù)字被測(cè)單元中自動(dòng)采集非電量或者電量信號(hào),送到上位機(jī)中進(jìn)行分析，處理。待機(jī)功耗指的是當(dāng)電子設(shè)備在其最低功率模式下運(yùn)行時(shí)所消耗的功率。

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半導(dǎo)體及材料測(cè)試

半導(dǎo)體材料的突破帶來(lái)了一場(chǎng)技術(shù)革命，引領(lǐng)了尖端新器件的研發(fā)。3DFlash存儲(chǔ)器、人工智能芯片、MEMS/sensor芯片、GaN/SiC功率半導(dǎo)體器件等前所未有的應(yīng)用推動(dòng)著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。

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LUCEO壓力眼測(cè)試方案

IEEE和OIF要求100G接口要在壓力條件下測(cè)試光接收器，VECP、J2、J9需要達(dá)到指標(biāo)。這需對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的確定性抖動(dòng)DJ、隨機(jī)抖動(dòng)RJ和垂直眼圖閉合進(jìn)行完整校準(zhǔn)。LUCEO的壓力眼測(cè)試系統(tǒng)提供基于協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)的完整校準(zhǔn)壓力參數(shù)設(shè)置。

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汽車(chē)以太網(wǎng)測(cè)試

ADAS、智能安全系統(tǒng)和人機(jī)子系統(tǒng)生成在車(chē)內(nèi)傳輸?shù)拇罅繑?shù)據(jù)。此外，提高汽車(chē)子系統(tǒng)間集成度的要求也推動(dòng)基礎(chǔ)架構(gòu)發(fā)生變化：從簡(jiǎn)單環(huán)形網(wǎng)絡(luò)變成更復(fù)雜的拓?fù)渚W(wǎng)絡(luò)，包括連接各骨干網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)關(guān)。

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