偏振相關損耗（PDL）現(xiàn)已成為描述無源光器件特性的一項標準指標。當前主要有兩種PDL測量方法：偏振掃描法和四狀態(tài)法，后者一般也被稱作Mueller法。
深圳市千兆科科技有限公司一直致力于將世界先進的測試技術帶到科技的各個領域
