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LPDDR3 interposer
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協(xié)議分析儀
DDR協(xié)議分析儀
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NAND協(xié)議分析儀
EMMC協(xié)議分析儀
SD協(xié)議分析儀
MIPI協(xié)議分析儀
UFS4.0/3.1協(xié)議分析器和訓練器
PCIeGen3/4協(xié)議分析儀
光通信測試儀器
誤碼儀
采樣示波器
光譜儀
壓力眼測試
PDL測試
基礎測試儀器
示波器
邏輯分析儀
信號發(fā)生器
頻譜儀
熱像儀
源表
音頻分析儀
半導體測試儀
半導體參數(shù)分析儀
半導體開關系統(tǒng)
PCT參數(shù)波形記錄儀
HV參數(shù)測試系統(tǒng)
測試附件
射頻線纜
連接器
測試板
其他
JTAG卡
解決方案
高速總線相關測試
汽車以太網測試
光通信
半導體及材料測試
數(shù)據(jù)采集及電源測試
技術專欄
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數(shù)據(jù)采集及電源測試
LPDDR5 內存接口的高效驗證和調試
泰克LPDDR5發(fā)射機解決方案是一種自動化的系統(tǒng)級測試應用,可讓您快速、有效和可靠地驗證和調試 LPDDR5設計,以滿足 JEDEC 定義的50多種電氣和時序測量要求。
DDR5 內存接口的高效驗證和調試
泰克TekExpress DDR5發(fā)射機解決方案是一種自動化的系統(tǒng)級測試應用,可讓您快速、有效和可靠地驗證和調試DDR5設計,以滿足JEDEC定義的50多種電氣和時序測量要求。
EMMC NAND測試方案
因為BF7264B是集邏輯分析儀與協(xié)議分析儀于一體的機器,所以BF7264B可以先用協(xié)議分析儀功能長時間監(jiān)測采集數(shù)據(jù),從而發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)錯誤。然后再用邏輯分析儀功能的協(xié)議觸發(fā)去定位采集數(shù)據(jù)錯誤的數(shù)字波形,最后確認數(shù)據(jù)錯誤的原因。
SD及SDIO測試方案
BF7264B 是集邏輯分析儀與協(xié)議分析儀于一體的機器,目前市場上邏輯分析儀和協(xié)議分析儀都是單獨的儀器。BF7264B 的協(xié)議分析儀模式是信號進入儀器內部后,信號就被儀器內部的芯片直接進行協(xié)議解析,將解析好的文本協(xié)議數(shù)據(jù)送出來顯示。
HDMI相關測試
高清晰度多媒體接口 (HDMI) 是用于提供高清體驗的數(shù)字視頻接口。隨著 HDMI 標準的傳輸速度提高,由于信號質量失真而引起的互操作性問題為 HDMI 接收設備和源設備帶來了新的技術要求和測試挑戰(zhàn)。
MIPI C-PHY發(fā)射機、接收機和協(xié)議解決方案
泰克C-PHY TX Essentials、C-PHYXpress、TMPC-CPHYVIEW和Moving Pixel C-PHY協(xié)議解決方案提供了完善的一站式C-PHY解決方案,用來根據(jù) MIPI標準合規(guī)性測試和表征發(fā)射機、接收機和協(xié)議測試要求。C-PHY TX Essentials解決方案為調試和表征C-PHY數(shù)據(jù)鏈路提供了簡便的方式。C-PHY TX應用允許根據(jù)MIPI C-PHY v1.0規(guī)范選擇電氣測量和定時測量。
M-PHY 發(fā)射機解決方案
The Tektronix M-PHY TX Essentials Test software runs on Tektronix real-time oscilloscopes that are based on Windows 7 computer operating systems.
TYPE C PD3.0數(shù)據(jù)測試分析方案
目前市場針對 Type-C 接口中的 PD3.0 數(shù)據(jù)分析的低成本方案非常少,Acute 邏輯分析儀較先支持了 PD3.0 數(shù)據(jù)的測試分析。
汽車以太網測試
ADAS、智能安全系統(tǒng)和人機子系統(tǒng)生成在車內傳輸?shù)拇罅繑?shù)據(jù)。 此外,提高汽車子系統(tǒng)間集成度的要求也推動基礎架構發(fā)生變化:從簡單環(huán)形網絡變成更復雜的拓撲網絡,包括連接各骨干網絡的網關。
LUCEO壓力眼測試方案
IEEE和OIF要求100G接口要在壓力條件下測試光接收器,VECP、J2、J9需要達到指標。這需對數(shù)據(jù)信號的確定性抖動DJ、隨機抖動RJ和垂直眼圖閉合進行完整校準。LUCEO的壓力眼測試系統(tǒng)提供基于協(xié)會標準的完整校準壓力參數(shù)設置。
半導體及材料測試
半導體材料的突破帶來了一場技術革命,引領了尖端新器件的研發(fā)。3DFlash存儲器、人工智能芯片、MEMS/sensor芯片、GaN/SiC功率半導體器件等前所未有的應用推動著半導體產業(yè)的發(fā)展。
數(shù)據(jù)采集及電源測試
數(shù)據(jù)采集(DAQ),是指從傳感器和其它待測設備等模擬和數(shù)字被測單元中自動采集非電量或者電量信號,送到上位機中進行分析,處理。待機功耗指的是當電子設備在其最低功率模式下運行時所消耗的功率。
深圳市千兆科科技有限公司一直致力于將世界先進的測試技術帶到科技的各個領域
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