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PDL測(cè)試儀 PDL-201

PDL測(cè)試儀 PDL-201


  • 30ms 測(cè)量速度
  • 寬波長(zhǎng)范圍
  • 高 PDL 精度
  • 模擬 PDL 輸出
  • 明亮的 OLED 顯示屏
  • 功率計(jì)功能

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

使用獲得專利的最大值和最小值搜索方法(符合 TIA/EIA-455-198; ref. “用于精確 PDL 和 DOP 表征的自動(dòng)最大-最小搜索方法”), General Photonics 的 PDL 萬(wàn)用表同時(shí)測(cè)量偏振相關(guān)損耗 (PDL)、插入損耗 (IL) 和被測(cè)設(shè)備 (DUT) 的光功率在 30 毫秒內(nèi)完成。與 PDL 不同 使用極化加擾方法的儀表,具有較大的測(cè)量不確定度, PolaCHEX? 系統(tǒng)地搜索最大和最小傳輸以確保 始終為具有低和高 PDL 值的設(shè)備提供測(cè)量精度。因此 最準(zhǔn)確的 PDL 儀表。更令人印象深刻的是,PolaCHEX 涵蓋了廣泛的 波長(zhǎng)范圍從 1260 到 1620 nm,無(wú)需波長(zhǎng)校準(zhǔn),明顯優(yōu)于 基于穆勒矩陣方法的 PDL 儀表。 PolaCHEX 帶有 USB、以太網(wǎng)、GPIB 和 用于 PC 控制的 RS-232 接口,非常適合快速、準(zhǔn)確地表征波長(zhǎng) 無(wú)源器件,尤其是 DWDM 和光纖傳感器組件在制造中的依賴性 環(huán)境以及實(shí)驗(yàn)室。 PDL-201 具有快速測(cè)量、大 測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍、明亮的 OLED 顯示屏和易于集成的模擬輸出端口 在自動(dòng)測(cè)量站。

Features:

  • 30 ms measurement speed
  • Wide wavelength range
  • High PDL accuracy
  • Analog PDL output
  • Bright OLED display
  • Power meter function

Applications:

  • PDL vs. wavelength measurement
  • DWDM device characterization
  • Fiber sensor component characterization

主要技術(shù)參數(shù):

波長(zhǎng): 1260-1620 nm
分辨率 0.01 dB
PDL?度1,2,3 ±(0.01 + 5% of PDL) (dB)
PDL?重復(fù)性1 ±(0.005 + 2% of PDL) (dB)
PDL?動(dòng)態(tài)范圍4 0 to 45 dB
IL?度1,2,3 ±(0.01 + 5% of IL) (dB)
IL?重復(fù)性1 ±(0.005 dB + 2% of IL) (dB)
IL?動(dòng)態(tài)范圍4 0 to 45 dB
輸入光功率 -40 to 6 dBm
光功率精度 ±0.25 dB
波長(zhǎng)校準(zhǔn)(?功率測(cè)量) 1260-1360 nm?;?1440-1620 nm
測(cè)量速度 30 ms/次?(input >-30 dBm)
操作溫度 0 to 50℃
存儲(chǔ)溫度 -20 to 70℃
光連接器類型 光源、?DUT?輸入:APC
DUT輸出 自由空間適配器
模擬輸出 0-4V PDL監(jiān)控電壓?(用戶自定義PDL范圍) (0-3.5V PDL線性變化, 4V?指示低功率)
電源供應(yīng) 100–240VAC, 50–60Hz
通訊接口 USB, Ethernet, RS-232, and GPIB
尺寸 2U, 19”?半架寬度?3.5" (H)?×?8.5" (W)?×?14" (L)

備注:數(shù)據(jù)在23±5°C溫度下,10組平均值所得。的偏振相關(guān)損耗測(cè)試還取決于測(cè)試設(shè)置。輸入功率?≥0 dBm,用戶自定義功率計(jì)測(cè)量模式。

典型性能數(shù)據(jù):

APC Connector

Figure 1. Measurement of a low PDL sample: APC Connector

Polarizer

Figure 2. Measurement of high PDL sample: Polarizer

scan repeatability

Figure 3. Wavelength scan and multiple (12) scan repeatability


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